光學冷熱台支持與(yu) 各類顯微鏡、光譜儀(yi) 等光學儀(yi) 器設備聯用，進行變溫下的光學觀察及測試。 可在 -190~600℃ / RT~1200℃ 的溫度範圍內(nei) 進行溫控，實現樣品在氣密 / 真空環境下的變溫光學觀察及測試。

變溫光譜儀(yi) 冷熱台可實現多種環境(氣氛、真空、濕度等)，與(yu) 顯微鏡、拉曼、光譜儀(yi) 、DIC等聯用，進行材料、器件等的成分、相變、形變、電學、光學性能等測試。