hth在线登录是專(zhuan) 業(ye) 的冷熱台生產(chan) 廠家， -190~600℃，高溫1200℃，溫控精度±0.1℃。光學冷熱台是能夠與(yu) 光學顯微鏡、掃描電子顯微鏡、環境掃描電子顯微鏡、低溫凍幹顯微鏡、共聚焦拉曼顯微鏡、熒光顯微鏡等多種顯微鏡設備結合，通過編程精密控製樣品台溫度，快速加熱或冷卻樣品，可以觀察、記錄該過程中樣品發生的結構和形貌變化，探究和認識樣品的理化性質。

半導體(ti) 冷熱台又稱帕爾貼冷熱台，半導體(ti) 的熱-電效應，配合低溫循環液使用。$n與(yu) 各類顯微鏡、光譜儀(yi) 、掃描電鏡等光學儀(yi) 器設備聯用，進行變溫下的光學觀察及測試。$n實現樣品開放式 / 氣密 / 真空環境下的變溫光學觀察及測試。

光學冷熱台支持與(yu) 各類顯微鏡、光譜儀(yi) 等光學儀(yi) 器設備聯用，進行變溫下的光學觀察及測試。 可在 -190~600℃ / RT~1200℃ 的溫度範圍內(nei) 進行溫控，實現樣品在氣密 / 真空環境下的變溫光學觀察及測試。

XRD原位冷熱台是一款X-射線衍射儀(yi) 的變溫測試附件，可實現樣品變溫測試的溫度範圍：-190~600°C / RT~1200°C 支持在空氣 / 惰性氣體(ti) / 真空的環境條件下進行測試。 適合於(yu) 粉末、片材樣品在變溫下進行X-射線結構研究，支持在現有各種X-射線衍射儀(yi) （布魯克、賽默飛、理學等）上定製樣品架進行適配。

變溫光譜儀(yi) 冷熱台可實現多種環境(氣氛、真空、濕度等)，與(yu) 顯微鏡、拉曼、光譜儀(yi) 、DIC等聯用，進行材料、器件等的成分、相變、形變、電學、光學性能等測試。

變溫X衍射結構緊湊，適用於(yu) 多種材料的變溫XRD測試，最大溫度範圍 -190 ℃ 到 600 ℃ （可選性）。