電控探針冷熱台是一款針對材料研究過程中變溫電學測試而設計的產(chan) 品，可表征材料升溫和降溫階段，其電學性能隨溫度變化的特征。 通過調節高精度自動位移台（納米級），移動內(nei) 部探針位置，進行高精度的XYZ方向位移。采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~600℃範圍內(nei) 精準控製，與(yu) 其他電學儀(yi) 表（如源表、萬(wan) 用表等）搭配集成，進行變溫原位測試。

外置調節探針冷熱台是一款針對材料研究過程中變溫電學測試而設計的產(chan) 品，可表征材料升溫和降溫階段，其電學性能隨溫度變化的特征。 通過調節外部探針臂，移動內(nei) 部探針位置，進行高精度的XYZ方向位移。采用液氮致冷、電阻加熱的方式，實現-190~600℃範圍內(nei) 精準控製，可與(yu) 電學儀(yi) 表（如源表、萬(wan) 用表等）搭配集成，進行變溫原位測試。

mini熱台主要參數：$n溫度範圍：RT~200℃，精度± 0.1℃$n載樣台尺寸：φ12mm$n外形尺寸：40*40*13mm