XRD冷熱台是一種用於(yu) X射線衍射(XRD)實驗的設備,能夠在不同溫度條件下對樣品進行分析。主要用於(yu) 研究材料在升溫或降溫過程中的相變、晶體(ti) 結構變化和熱行為(wei) 等。
主要功能
1.溫度控製:XRD冷熱台能夠在非常廣泛的溫度範圍內(nei) (從(cong) 低溫到高溫,通常為(wei) -190°C至600°C或更高)精確控製樣品的溫度。這使得研究者可以模擬各種環境條件,如定點低溫或高溫下的晶體(ti) 結構行為(wei) 。
2.原位觀測:冷熱台允許X射線衍射儀(yi) 在樣品溫度變化的同時進行原位測量,研究材料在加熱、冷卻過程中的相變、晶體(ti) 結構變化及其他熱相關(guan) 現象。實時監測避免了傳(chuan) 統方法中因溫度變化後樣品轉移帶來的誤差。
3.氣氛控製:XRD冷熱台可以控製樣品周圍的氣氛,例如在真空、空氣、惰性氣體(ti) 或特定的反應氣體(ti) 環境下進行實驗。這樣可以模擬實際工作條件,如催化劑在反應氣氛下的相變行為(wei) 。
4.精確的溫度梯度:冷熱台能夠提供穩定的升溫和降溫速率,允許用戶對材料進行快速升溫或緩慢的熱處理實驗,從(cong) 而研究不同溫度變化速率下材料的行為(wei) 。
應用領域
1.材料科學:用於(yu) 研究材料的熱膨脹、相變、熱分解等過程,幫助開發和優(you) 化新型材料,如高溫超導體(ti) 、功能陶瓷等。
2.地質學:在高溫高壓條件下,研究礦物的相變行為(wei) 以及地殼、地幔材料在定點環境下的晶體(ti) 結構變化。
3.化學與(yu) 催化研究:催化劑材料在反應條件下的穩定性和結構變化是研究的重要方向,XRD冷熱台為(wei) 此類實驗提供了原位分析的手段。
4.物理研究:研究熱電材料、磁性材料等的結構變化,以及材料在低溫下的超導性研究。
設備結構
XRD冷熱台的設備結構主要包括溫度控製係統、樣品台、數據采集和分析係統以及機械結構。溫度控製係統由加熱元件和製冷裝置組成,用於(yu) 精確調節樣品溫度。樣品台配備樣品夾具和溫度傳(chuan) 感器,確保樣品穩定並實時監測溫度,數據采集係統通過計算機進行實驗控製和數據分析。最後,機械結構提供支撐和調整機製,確保設備的穩定性和精確性。這些部分的協同工作使XRD冷熱台能夠有效研究材料在不同溫度條件下的熱行為(wei) 和相變特性。
選購參考
簡要參數:
•溫度範圍:-190~600℃ / RT~1200℃
•溫度穩定性:±0.1℃(<600℃)±1℃(>600℃)
•支持反射/透射模式
•氣密腔室,可通保護氣體(ti)
•腔室可升級真空腔室(10^(-3) mbar)
•上位機軟件控製
•支持改動或定製
參數一覽表: