1、研製背景
X-射線衍射分析法目前已廣泛應用於(yu) 物相的定性或定量分析、晶體(ti) 結構分析、材料結構分析、宏觀應力或微觀應力測定等方麵。在不同溫度下測試的樣品物相可能會(hui) 發生變化,原位X-射線衍射高低溫樣品台可以為(wei) 樣品提供良好的變溫測試條件,從(cong) 而滿足樣品在不同溫度下的測試需求。
2、產(chan) 品介紹
hth在线登录開發的原位X-射線衍射高低溫樣品台(下文簡稱XRD冷熱台),產(chan) 品係統主體(ti) 包含XRD冷熱台、位移樣品架、溫度控製係統、供氣或真空係統和循環冷卻係統。
XRD冷熱台現有兩(liang) 款產(chan) 品,可以實現的溫度控製範圍分別為(wei) :-190°C~600°C,RT~1200°C,在空氣、惰性氣體(ti) 或真空的環境條件,與(yu) 常見的X-射線衍射儀(yi) 配套使用。XRD冷熱台適合各種類型的樣品在高低溫下進行X-射線結構研究,多種樣品架可配合反射和透射模式,支持在現有各種X-射線衍射儀(yi) (布魯克、賽默飛、理學等)上改造適配。
3、係統參數
4、係統特色
(1) 衍射角0-164°
(2) 真空腔室(10-3 mbar)
(3) 負溫下吹氣除霜管路
(4) 可增加試樣溫度監測
(5) 可適配衍射儀(yi) 定製樣品架
(6) 多種樣品架實現反射和透射
(7) 溫控精度高,可編程階梯控溫
(8) 電熱、液氮可實現快速升降溫
(9) 溫控範圍寬(-190~600℃ / RT~1200℃)
(10) 中低溫產(chan) 品采用銀質冷熱傳(chuan) 導,均溫性好
(11) 高溫產(chan) 品采用陶瓷加熱片,溫度傳(chuan) 感器靠近樣品,精準測量樣品溫度
5、相關(guan) 案例(變溫X-射線衍射測試)
(1)X-射線衍射儀(yi) :賽默飛(Thermo Scientific)
粉末樣品填充
粉末樣品變溫測試
(2)X-射線衍射儀(yi) :理學(Rigaku)
鈦合金原位升降溫測試