冷熱台便捷的使用方式會帶來哪些好處

　　冷熱台可與同步輻射X射線散射、傅裏葉紅外光譜儀、偏光顯微鏡聯用，用於表針不同溫度下樣品的結構檢測。冷熱台溫控範圍為-190℃～350 ℃ ，可滿足諸多用戶的應用需求。

　　冷熱台是可以使用顯微鏡載物片載樣，且容易使用的設備。樣品放置在載物片上，載物片直接放置在拋光的加熱元件上且可以進行15mm的X、Y方向移動。樣品腔室是氣密的，氣體閥可以控製腔室內的環境，即惰性氣體或濕度。

　　冷熱台結合研究級岩相學顯微鏡使用，可以直接原位觀察在加溫或冷凍過程中樣品(如：流體包裹體、熔體包裹體)相態的變化，測定相變溫度，進而獲得相關的物理化學參數。

　　冷熱台使用方便、重複性好、溫度精確。多種樣品載台可以分析固體和液體樣品。使用石英坩堝可以從側門導入樣品，避免打開頂蓋、重新聚焦並節省時間。使 用不鏽鋼環載台需要打開熱台頂蓋放入樣品。

　　冷熱台可應用於半導體研究、液晶測試、化學等方麵，能夠精確控溫，它的表麵很平，適於做相關研究。真空型冷熱平台多數應用於物理、半導體、電子工程、矽片等方麵。冷熱台黑色的台體可以避免反光，適合集成在各種光路中，符合諸多用戶的應用需求。